微電腦環(huán)壓 邊壓試驗(yàn)機(jī) 環(huán)壓強(qiáng)度測(cè)試儀(液晶) 型號(hào)：MHY-24703

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：配備各種夾具附件可測(cè)試原紙之環(huán)壓強(qiáng)度、紙板之平壓強(qiáng)度、邊壓強(qiáng)度、膠合強(qiáng)度等試驗(yàn)，以便紙品企業(yè)控制成本和提產(chǎn)量。

可行以下試驗(yàn)：

1.配備環(huán)壓試驗(yàn)中心盤和環(huán)壓用取樣器，行紙板環(huán)壓強(qiáng)度試驗(yàn)（RCT）；

2.配備邊壓（粘合）試樣取樣器和輔助導(dǎo)塊，行瓦楞紙板邊壓強(qiáng)度試驗(yàn)（ECT）；

3.配備剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架，行瓦楞紙板粘合（剝離）強(qiáng)度試驗(yàn)（PAT）；

4.配備平壓試樣取樣器，行瓦楞紙板平壓強(qiáng)度試驗(yàn)（FCT）；

5.配備槽紋儀和輔助器具，行實(shí)驗(yàn)室槽紋試驗(yàn)（CCT和CMT）。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

1.系統(tǒng)自動(dòng)計(jì)算環(huán)壓強(qiáng)度，邊壓強(qiáng)度，用戶手算，減少作量和誤差；

2.自帶包裝堆碼測(cè)試能，可直接設(shè)定力量、時(shí)間，測(cè)試成后自動(dòng)停機(jī)；

3.測(cè)試成后有自動(dòng)回位能，自動(dòng)判斷壓潰力并自動(dòng)保存測(cè)試數(shù)據(jù)；

4.三種可設(shè)置的速度，中文液晶顯示操作接口，多種單位可供選擇；

5.可記錄保存20次試驗(yàn)結(jié)果。

測(cè)量范圍
 200kg以內(nèi)選
 
單位切換
 N、kN、kgf、gf、lbf
 
分 解 度
 1/10000
 
示值誤差碼
 ±1%
 
示值變性
 ≤1%
 
試驗(yàn)速度
 12.5±2.5mm/min(或可按客戶要求設(shè)成調(diào)速)
 
上下壓板平行度
 <0.05mm
 
壓盤尺寸
 100*100mm(可按客戶要求定做)
 
上下壓盤間距
 100mm
 
體積(約)
 350*400*850mm
 
電源
 1∮，220V 1.（依標(biāo)或）
 
重量(約)
 45kg
 
標(biāo)準(zhǔn)配置
 豎壓夾具付
 
可選配置
 平行取樣器/環(huán)壓取樣器/環(huán)壓夾具/平壓夾具/膠合強(qiáng)度夾具

產(chǎn)品點(diǎn)：

1．32位嵌入式處理芯片，令周期快；

2．應(yīng)變測(cè)量度>4檔，即分辯力>20000碼；

3．采用軟件系數(shù)分文件標(biāo)定（校正）。有效的修正傳感器的線性；

4．4倍頻的光電編碼器正反雙向計(jì)數(shù)，分辨率；

5．顯示采用192×64點(diǎn)陣的大屏單色液晶，可以顯示更多的信息；

6．1路RS232串口，可以連接到其他的設(shè)備；

7．1路打印并口，可以接微型打印機(jī)或針式打印機(jī)；

8．8個(gè)操控按鍵（5個(gè)能鍵，3個(gè)復(fù)用鍵），操作簡(jiǎn)單；

9．力量單位：N 、 kN、 kgf、gf 、lbf；

10．應(yīng)力單位：Pa、kPa 、MPa、kgf/cm2、lbf /in2；

11．長(zhǎng)度（面積）單位：mm、cm、in；

12．輸入能：雙路仿真信號(hào)；

13．顯示能：試驗(yàn)結(jié)束可自動(dòng)顯示并記憶試驗(yàn)過程中的zui大力量；

14．保存輸出：可記錄zui多20次試驗(yàn)結(jié)果。

儀器正常作的環(huán)境條件：

1.室溫：20℃±10℃；

2.電源：AC220V±22V，50Hz，zui大電3A，電源應(yīng)可靠接地，如電源電壓波動(dòng)出上述范圍，則應(yīng)使用電源穩(wěn)壓器；

3.作環(huán)境清潔，無強(qiáng)磁場(chǎng)和震動(dòng)源，作臺(tái)平整穩(wěn)固。

維護(hù)保養(yǎng):

操作者應(yīng)熟讀使用說明書，嚴(yán)格遵守操作規(guī)程，并做好以下維護(hù)保養(yǎng)作：

1.經(jīng)常保持儀器清潔，長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)加罩防塵；

2.儀器出現(xiàn)故障時(shí)，應(yīng)請(qǐng)業(yè)人員檢查排除，切勿帶病運(yùn)行；

3.堅(jiān)持周期檢定，保持儀器優(yōu)良狀態(tài)，檢定周期般為年。