本儀器用于通訊設備、廣播設備、電子儀表及家電產(chǎn)品的測量調(diào)試，是款能多、度的數(shù)字化儀器。本儀器測頻可達2400兆赫，四能（測頻率、測周期、計數(shù)、晶體測量）、低耗、體積小、重量輕，穩(wěn)定，能是由片大規(guī)模集成電路來成的。整個儀器的能和使用方法均在這本說明書里，在使用該儀器前，請務通讀并弄懂這些資料的細節(jié)，以便正確的操作，取得效果。

測量方式
（） 頻率測量：
量 程： 1檔位 30MHz—2400MHz 比例計數(shù)通道A輸入（上面插座）。
2檔位1MHz—30MHz 直接計數(shù)通道B輸入（中間插座）。
3檔位 10Hz—1MHz 直接計數(shù)通道B輸入（中間插座）。
分辨率： 1檔位 10Hz、20Hz、100Hz、1000Hz選。
2檔位 0.1Hz、0.2Hz、1Hz、10Hz選。
3檔位 0.1Hz、0.2Hz、1Hz、10Hz選。
閘門時間： 0.1S、1S、5S、10S選。
（二）累計測量：
4檔位：通道C輸入（下面的插座），間隔時間長度不限。加或減1輸入計數(shù)。
（三）晶體測量：
5檔位：2MHz — 24MHz 前面板晶體插口輸入。
（四）周期測量：
6檔位：TTL電平周期測量，通道C輸入（下面插座）。分辯率為0.01us。可分
別測量波、波底和整個波周期，可測量單個或連續(xù)波周期。